SEU critical charge and sensitive area in a submicron CMOS...

IEEE Transactions on Nuclear Science 1997 / Dec. Vol. 44; Iss. 6

SEU critical charge and sensitive area in a submicron CMOS technology

Detcheverry, C., Dachs, C., Lorfevre, E., Sudre, C., Bruguier, G., Palau, J.M., Gasiot, J., Ecoffet, R.
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Volume:
44
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/23.659045
Date:
January, 1997
Fichier:
PDF, 1019 KB
english, 1997
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