on-Resistance Degradation Induced by Hot-Carrier Injection...

IEEE Transactions on Electron Devices 2013 / 03 Vol. 60; Iss. 3

on-Resistance Degradation Induced by Hot-Carrier Injection in SOI SJ-LDMOS

Xia, Chao, Cheng, Xinhong, Wang, Zhongjian, Cao, Duo, Jia, Tingting, Yu, Yuehui, Shen, Dashen
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Volume:
60
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/TED.2013.2242077
Date:
March, 2013
Fichier:
PDF, 229 KB
english, 2013
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