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[IEEE Conference Record of the 2004 IEEE Industry Applications Conference, 2004. 39th IAS Annual Meeting. - Seattle, WA, USA (3-7 Oct. 2004)] Conference Record of the 2004 IEEE Industry Applications Conference, 2004. 39th IAS Annual Meeting. - Characterization of SiC PiN diode forward bias degradation

Hefner, A., McNutt, T., Akuffo, A., Singh, R., Ellenwood, C., Berning, D., Das, M.K., Sumakeris, J.J., Stahlbush, R.
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Volume:
2
Année:
2004
Langue:
english
DOI:
10.1109/IAS.2004.1348573
Fichier:
PDF, 929 KB
english, 2004
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