TCAD Simulation of Hot-Carrier and Thermal Degradation in...

IEEE Transactions on Electron Devices 2013 / 02 Vol. 60; Iss. 2

TCAD Simulation of Hot-Carrier and Thermal Degradation in STI-LDMOS Transistors

Reggiani, Susanna, Barone, Gaetano, Poli, Stefano, Gnani, Elena, Gnudi, Antonio, Baccarani, Giorgio, Chuang, Ming-Yeh, Tian, Weidong, Wise, Rick
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Volume:
60
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/TED.2012.2227321
Date:
February, 2013
Fichier:
PDF, 1.03 MB
english, 2013
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