The dependence of bulk defects on the axial temperature...

The dependence of bulk defects on the axial temperature gradient of silicon crystals during Czochralski growth

Wilfried von Ammon, Erich Dornberger, Hans Oelkrug, Herbert Weidner
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Volume:
151
Année:
1995
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/0022-0248(95)00063-1
Fichier:
PDF, 407 KB
english, 1995
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