TEM characterization of defects in LEC-grown GaAs...

Journal of Crystal Growth 1991 Vol. 110; Iss. 4

TEM characterization of defects in LEC-grown GaAs substrates

P. Wurzinger, H. Oppolzer, P. Pongratz, P. Skalicky
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
110
Année:
1991
Langue:
english
Pages:
12
DOI:
10.1016/0022-0248(91)90635-i
Fichier:
PDF, 1.86 MB
english, 1991
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué