Optical and photo-carrier characterization of ultra-shallow...

SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy 2013 / 07 Vol. 56; Iss. 7

Optical and photo-carrier characterization of ultra-shallow junctions in silicon

QiuPing Huang, BinCheng Li, ShengDong Ren
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
56
Langue:
english
DOI:
10.1007/s11433-013-5091-8
Date:
July, 2013
Fichier:
PDF, 631 KB
english, 2013
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué