Spectroscopic Ellipsometry of BaxSr1—xTiO3 Thin Films...

physica status solidi (a) 2002 Vol. 191; Iss. 2

Spectroscopic Ellipsometry of BaxSr1—xTiO3 Thin Films Prepared by the Sol–Gel Method

Sheng-Hong Yang, Dang Mo, Hu-Yong Tian, Wei-Gen Luo, Xing-Hua Pu, Ai-Li Ding
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Volume:
191
Année:
2002
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1002/1521-396x(200206)191:23.0.co;2-p
Fichier:
PDF, 107 KB
english, 2002
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