FTIR Ellipsometry as a Tool for Studying Organic Layers:...

physica status solidi (a) 2001 Vol. 188; Iss. 4

FTIR Ellipsometry as a Tool for Studying Organic Layers: From Langmuir-Blodgett Films to Can Coatings

D. Tsankov, K. Hinrichs, A. Röseler, E.H. Korte
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
188
Année:
2001
Langue:
english
Pages:
11
DOI:
10.1002/1521-396x(200112)188:43.0.co;2-v
Fichier:
PDF, 161 KB
english, 2001
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué