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Fowler–Nordheim analysis of oxides on 4H-SiC substrates using noncontact metrology

Oborina, Elena I., Benjamin, Helen N., Hoff, Andrew M.
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Volume:
106
Année:
2009
Langue:
english
Journal:
Journal of Applied Physics
DOI:
10.1063/1.3245323
Fichier:
PDF, 561 KB
english, 2009
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