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X-ray topographic characterization of epitaxially grown...

Diamond and Related Materials 1998 / 2 Vol. 7; Iss. 2-5

X-ray topographic characterization of epitaxially grown diamond film

Suzuki, Carlos K., Shinohara, Armando H., Godoy, Paulo H., Watanabe, Noemia, Kamo, Mutsukazu
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Volume:
7
Langue:
english
Journal:
Diamond and Related Materials
DOI:
10.1016/S0925-9635(97)00259-8
Date:
February, 1998
Fichier:
PDF, 1.11 MB
english, 1998
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