Error-Free Matthiessen's Rule in the MOSFET Universal...

IEEE Transactions on Electron Devices 2013 / 02 Vol. 60; Iss. 2

Error-Free Matthiessen's Rule in the MOSFET Universal Mobility Region

Ming-Jer Chen,, Wei-Han Lee,, Yi-Hui Huang,
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Volume:
60
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/TED.2012.2233202
Date:
February, 2013
Fichier:
PDF, 1.38 MB
english, 2013
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