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Low-temperature exciton trapping on interface defects in...

Low-temperature exciton trapping on interface defects in semiconductor quantum wells

Bastard, G., Delalande, C., Meynadier, M. H., Frijlink, P. M., Voos, M.
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Volume:
29
Langue:
english
Journal:
Physical Review B
DOI:
10.1103/PhysRevB.29.7042
Date:
June, 1984
Fichier:
PDF, 190 KB
english, 1984
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