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[IEEE 2011 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Monterey, CA, USA (2011.04.10-2011.04.14)] 2011 International Reliability Physics Symposium - Pulsed laser-induced transient currents in bulk and silicon-on-insulator FinFETs

El-Mamouni, F., Zhang, E. X., Schrimpf, R. D., Reed, R. A., Galloway, K. F., McMorrow, D., Simoen, E., Claeys, C., Cristoloveanu, S., Xiong, W.
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Année:
2011
Langue:
english
DOI:
10.1109/IRPS.2011.5784597
Fichier:
PDF, 948 KB
english, 2011
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