Long-term reliability of Al-free InGaAsP/GaAs (λ=808 nm)...

Applied Physics Letters 1997 Vol. 71; Iss. 21

Long-term reliability of Al-free InGaAsP/GaAs (λ=808 nm) lasers at high-power high-temperature operation

Diaz, J., Yi, H. J., Razeghi, M., Burnham, G. T.
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Volume:
71
Année:
1997
Langue:
english
Journal:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.119431
Fichier:
PDF, 290 KB
english, 1997
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