Techniques for Minimizing the Basal Plane Dislocation...

Materials Science Forum 2006 Vol. 527-529

Techniques for Minimizing the Basal Plane Dislocation Density in SiC Epilayers to Reduce Vf Drift in SiC Bipolar Power Devices

Sumakeris, Joseph J., Bergman, J. Peder, Das, Mrinal K., Hallin, Christer, Hull, Brett A., Janzén, Erik, Lendenmann, H., O'Loughlin, Michael J., Paisley, Michael J., Ha, Seo Young, Skowronski, Marek,
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
527-529
Année:
2006
Langue:
english
Journal:
Materials Science Forum
DOI:
10.4028/www.scientific.net/MSF.527-529.141
Fichier:
PDF, 1.06 MB
english, 2006
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué