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[IEEE 2008 IEEE Aerospace Conference - Big Sky, MT, USA (2008.03.1-2008.03.8)] 2008 IEEE Aerospace Conference - Modeling and Analysis Method for Radiation-Induced Upsets in Modern IC Device Models

Francis, Matt, Dimitrov, Dimitre, Holmes, James, Mantooth, Alan
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Année:
2008
Langue:
english
DOI:
10.1109/AERO.2008.4526685
Fichier:
PDF, 864 KB
english, 2008
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