Compact Modeling and Simulation of Circuit Reliability for...

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 2007 / 12 Vol. 7; Iss. 4

Compact Modeling and Simulation of Circuit Reliability for 65-nm CMOS Technology

Wenping Wang,, Reddy, V., Krishnan, A.T., Vattikonda, R., Krishnan, S., Yu Cao,
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
7
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
DOI:
10.1109/TDMR.2007.910130
Date:
December, 2007
Fichier:
PDF, 370 KB
english, 2007
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué