High reliability of AlGaInP light-emitting diodes with...

High reliability of AlGaInP light-emitting diodes with tensile strain barrier-reducing Layer

Juh-Yuh Su, Wen-Bin Chen, Meng-Chi Wu, Yan-Kun Su, Kung-Ming Liang
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Volume:
16
Année:
2004
Langue:
english
DOI:
10.1109/lpt.2003.818926
Fichier:
PDF, 91 KB
english, 2004
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