Loop makeup identification via single ended testing: beyond...

IEEE Journal on Selected Areas in Communications 2002 Vol. 20; Iss. 5

Loop makeup identification via single ended testing: beyond mere loop qualification

Galli, S., Waring, D.L.
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Volume:
20
Année:
2002
Langue:
english
DOI:
10.1109/jsac.2002.1007375
Fichier:
PDF, 453 KB
english, 2002
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