Backside optical measurements of picosecond internal gate...

Backside optical measurements of picosecond internal gate delays in a flip-chip packaged silicon VLSI circuit

Heinrich, H.K., Pakdaman, N., Kent, D.S., Cropp, L.M.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
3
Année:
1991
Langue:
english
DOI:
10.1109/68.87950
Fichier:
PDF, 277 KB
english, 1991
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué