Improved analysis and modeling of low-frequency noise in...

Solid-State Electronics 2012 / 10 Vol. 76

Improved analysis and modeling of low-frequency noise in nanoscale MOSFETs

Ioannidis, E.G., Dimitriadis, C.A., Haendler, S., Bianchi, R.A., Jomaah, J., Ghibaudo, G.
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Volume:
76
Langue:
english
Journal:
Solid-State Electronics
DOI:
10.1016/j.sse.2012.05.035
Date:
October, 2012
Fichier:
PDF, 394 KB
english, 2012
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