Direct observation of fine structure in ion tracks in...

Direct observation of fine structure in ion tracks in amorphous Si3N4 by TEM

K. Nakajima, Y. Morita, M. Suzuki, K. Narumi, Y. Saitoh, N. Ishikawa, K. Hojou, M. Tsujimoto, S. Isoda, K. Kimura
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Volume:
291
Année:
2012
Langue:
english
DOI:
10.1016/j.nimb.2012.09.007
Fichier:
PDF, 1.10 MB
english, 2012
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