Enhanced permanent degradation of organic TFT under...

Microelectronics Reliability 2012 Vol. 52; Iss. 9-10

Enhanced permanent degradation of organic TFT under electrical stress and visible light exposure

N. Wrachien, D. Bari, J. Kovac, J. Jakabovic, D. Donoval, G. Meneghesso, A. Cester
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Volume:
52
Année:
2012
Langue:
english
DOI:
10.1016/j.microrel.2012.06.055
Fichier:
PDF, 403 KB
english, 2012
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