High temperature reliability of μtrench Phase-Change Memory...

Microelectronics Reliability 2012 Vol. 52; Iss. 9-10

High temperature reliability of μtrench Phase-Change Memory devices

G. Navarro, S. Souiki, A. Persico, V. Sousa, J.-F. Nodin, C. Jahan, F. Aussenac, V. Delaye, O. Cueto, L. Perniola, B. De Salvo
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
52
Année:
2012
Langue:
english
DOI:
10.1016/j.microrel.2012.06.017
Fichier:
PDF, 678 KB
english, 2012
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué