Paramagnetic defects in silicon/silicon dioxide systems

Surface Science 1976 Vol. 54; Iss. 1

Paramagnetic defects in silicon/silicon dioxide systems

Philip J. Caplan, John N. Helbert, Burkhard E. Wagner, Edward H. Poindexter
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Volume:
54
Année:
1976
Langue:
english
DOI:
10.1016/0039-6028(76)90085-6
Fichier:
PDF, 656 KB
english, 1976
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