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Fabrication of SiGe quantum devices by electron-beam...

Fabrication of SiGe quantum devices by electron-beam induced damage

Joseph M. Ryan, Alec N. Broers, Douglas J. Paul, Michael Pepper, Terry E. Whall, Juan M. Fernández, Bruce A. Joyce
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Volume:
21
Année:
1997
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1006/spmi.1996.0137
Fichier:
PDF, 285 KB
english, 1997
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