Microstructure and dielectric relaxor behavior of...

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2012 / 10 Vol. 23; Iss. 10

Microstructure and dielectric relaxor behavior of Ba(Zr0.2Ti0.8)O3–(Ba0.7Ca0.3)TiO3–BaBi4Ti4O15ceramics by tape casting

Bei Xu, Feng Gao, Xiao Cao, Liangliang Liu, Guoxin Hu
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Volume:
23
Langue:
english
DOI:
10.1007/s10854-012-0667-z
Date:
October, 2012
Fichier:
PDF, 810 KB
english, 2012
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