Temperature dependence of the sticking and loss...

Temperature dependence of the sticking and loss probabilities of silyl radicals on hydrogenated amorphous silicon

Akihisa Matsuda, Katsuhiko Nomoto, Yoshiaki Takeuchi, Atsushi Suzuki, Akimasa Yuuki, Jérôme Perrin
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Volume:
227
Année:
1990
Langue:
english
DOI:
10.1016/0039-6028(90)90390-t
Fichier:
PDF, 636 KB
english, 1990
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