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[IEEE 2012 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) - Austin, TX, USA (2012.10.3-2012.10.5)] 2012 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) - Fast single-FPGA fault injection platform

Nazar, Gabriel L., Carro, Luigi
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Année:
2012
DOI:
10.1109/dft.2012.6378216
Fichier:
PDF, 569 KB
2012
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