Low-temperature electrical characterization of junctionless...

Solid-State Electronics 2013 / 2 Vol. 80

Low-temperature electrical characterization of junctionless transistors

Jeon, Dae-Young, Park, So Jeong, Mouis, Mireille, Barraud, Sylvain, Kim, Gyu-Tae, Ghibaudo, Gérard
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Volume:
80
Langue:
english
Journal:
Solid-State Electronics
DOI:
10.1016/j.sse.2012.10.018
Date:
February, 2013
Fichier:
PDF, 1.48 MB
english, 2013
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