Atomistic interpretation of microstrain in diffraction line...

Thin Solid Films 2013 / 3 Vol. 530

Atomistic interpretation of microstrain in diffraction line profile analysis

Leonardi, Alberto, Leoni, Matteo, Scardi, Paolo
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Volume:
530
Langue:
english
Journal:
Thin Solid Films
DOI:
10.1016/j.tsf.2012.05.037
Date:
March, 2013
Fichier:
PDF, 1.04 MB
english, 2013
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