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[IEEE 2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - Rhodes, Greece (2008.07.7-2008.07.9)] 2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium - Variation of SRAM Alpha-Induced Soft Error Rate with Technology Node

Leroy, Damien, Gaillard, Rémi, Schaefer, Erwin, Beltrando, Cyrille, Wen, Shi-Jie, Wong, Richard
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Année:
2008
Langue:
english
DOI:
10.1109/iolts.2008.38
Fichier:
PDF, 923 KB
english, 2008
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