Improved Time-of-Flight Technique for Measuring Carrier...

Japanese Journal of Applied Physics 2000 / 3 Vol. 39; Iss. Part 1, No

Improved Time-of-Flight Technique for Measuring Carrier Mobility in Thin Films of Organic Electroluminescent Materials

Chen, Baijun, Lee, Chun-sing, Lee, Shuit-tong, Webb, Patrick, Chan, Yan-cheong, Gambling, William, Tian, He, Zhu, Weihong
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Volume:
39
Langue:
english
Journal:
Japanese Journal of Applied Physics
DOI:
10.1143/jjap.39.1190
Date:
March, 2000
Fichier:
PDF, 56 KB
english, 2000
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