Ni Barrier-Induced Cracks in Matte Sn Films

Ting Liu, Dongyan Ding, Galuschki, K.-P., Yu Hu, Yihua Gong, Ming Shen

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Volume:

Année:

2012

Langue:

english

DOI:

10.1109/tcpmt.2012.2187055

Fichier:

PDF, 3.52 MB

english, 2012

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