Key Aspects in Modeling of Thin Epi SOS Technology With...

Key Aspects in Modeling of Thin Epi SOS Technology With Application of BSIMSOI

Roach, J., Lee-Wen Chen, Clarke, P., Dikshit, A., Rotella, F.M.

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Volume:

Année:

2011

Langue:

english

DOI:

10.1109/jssc.2011.2118270

Fichier:

PDF, 1.82 MB

english, 2011

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