Effect of C60 ion sputtering on the compositional depth...

Applied Surface Science 2011 Vol. 258; Iss. 3

Effect of C60 ion sputtering on the compositional depth profiling in XPS for Li(Ni,Co,Mn)O2 electrodes

Li-Shin Chang, Yi-Chun Lin, Ching-Yi Su, Hung-Chun Wu, Jing-Pin Pan
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Volume:
258
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
1282
DOI:
10.1016/j.apsusc.2011.08.087
Fichier:
PDF, 226 KB
english, 2011
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