Characterization of titanium hydride films covered by...

Surface and Interface Analysis 2000 / 04 Vol. 29; Iss. 4

Characterization of titanium hydride films covered by nanoscale evaporated Au layers: ToF-SIMS, XPS and AES depth profile analysis

Lisowski, W., van den Berg, A. H. J., Leonard, D., Mathieu, H. J.
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Volume:
29
Langue:
english
Pages:
6
Journal:
Surface and Interface Analysis
DOI:
10.1002/(sici)1096-9918(200004)29:43.0.co;2-l
Date:
April, 2000
Fichier:
PDF, 98 KB
english, 2000
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