Non-contact AFM images measured on Si(111)√3×√3-Ag and...

Surface and Interface Analysis 1999 / 05 Vol. 27; Iss. 5-6

Non-contact AFM images measured on Si(111)√3×√3-Ag and Ag(111) surfaces

Sugawara, Y., Minobe, T., Orisaka, S., Uchihashi, T., Tsukamoto, T., Morita, S.
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Volume:
27
Langue:
english
Pages:
6
Journal:
Surface and Interface Analysis
DOI:
10.1002/(sici)1096-9918(199905/06)27:5/63.0.co;2-i
Date:
May, 1999
Fichier:
PDF, 452 KB
english, 1999
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