New application for the calibration of scanning probe...

Surface and Interface Analysis 1999 / 05 Vol. 27; Iss. 5-6

New application for the calibration of scanning probe microscopy piezos

Heyde, Markus, Sturm, Heinz, Rademann, Klaus
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Volume:
27
Langue:
english
Pages:
5
Journal:
Surface and Interface Analysis
DOI:
10.1002/(sici)1096-9918(199905/06)27:5/63.0.co;2-g
Date:
May, 1999
Fichier:
PDF, 181 KB
english, 1999
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