Effect of Transistor Density and Charge Sharing on...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2011 Vol. 58; Iss. 6

Effect of Transistor Density and Charge Sharing on Single-Event Transients in 90-nm Bulk CMOS

Atkinson, Nicholas M., Ahlbin, Jonathan R., Witulski, Arthur F., Gaspard, Nelson J., Holman, W. Timothy, Bhuva, Bharat L., Zhang, Enxia X., Chen, Li, Massengill, Lloyd W.
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Volume:
58
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1109/tns.2011.2168425
Fichier:
PDF, 834 KB
english, 2011
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