Multi-method Analysis of the Metal/Electrolyte Interface:...

Surface and Interface Analysis 1997 / 06 Vol. 25; Iss. 7-8

Multi-method Analysis of the Metal/Electrolyte Interface: Scanning Force Microscopy (SFM), Quartz Microbalance Measurements (QMB), Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) and Grazing Incidence X-ray Diffractometry (GIXD) at a Polycrystalline Copper Electrode

Kautek, W., Geu�, M., Sahre, M., Zhao, P., Mirwald, S.
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Volume:
25
Langue:
english
Pages:
13
Journal:
Surface and Interface Analysis
DOI:
10.1002/(sici)1096-9918(199706)25:7/83.0.co;2-b
Date:
June, 1997
Fichier:
PDF, 618 KB
english, 1997
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