Evaluation of Bent-Crystal X-Ray Backlighting and...

Evaluation of Bent-Crystal X-Ray Backlighting and Microscopy Techniques for the Sandia Z Machine

Sinars, Daniel B., Bennett, Guy R., Wenger, David F., Cuneo, Michael E., Porter, John L.
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Volume:
42
Année:
2003
Langue:
english
Journal:
ao/42/19/ao-42-19-4059.pdf
DOI:
10.1364/AO.42.004059
Fichier:
PDF, 586 KB
english, 2003
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