Microwave Noise Characterization of GaAs MESFET's:...

Microwave Noise Characterization of GaAs MESFET's: Evaluation by On-Wafer Low-Frequency Output Noise Current Measurement

Gupta, M.S., Jr., Pitzalis, O., Rosenbaum, S.E., Greiling, P.T.

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Volume:

Année:

1987

Langue:

english

Pages:

DOI:

10.1109/tmtt.1987.1133839

Fichier:

PDF, 1.15 MB

english, 1987

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