Scanning Near-Field Millimeter-Wave Microscope: Application...

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 2008 Vol. 57; Iss. 11

Scanning Near-Field Millimeter-Wave Microscope: Application to a Vector-Coding Technique

Benzaim, O., Haddadi, K., Wang, M.M., Maazi, M., Glay, D., Lasri, T.
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Volume:
57
Année:
2008
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1109/tim.2008.926365
Fichier:
PDF, 469 KB
english, 2008
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