Errors Limiting Split- Mobility Extraction Accuracy in...

IEEE Transactions on Electron Devices 2012 Vol. 59; Iss. 4

Errors Limiting Split- Mobility Extraction Accuracy in Buried-Channel InGaAs MOSFETs

Morassi, L., Verzellesi, G., Han Zhao, Lee, J.C., Veksler, D., Bersuker, G.
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Volume:
59
Année:
2012
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1109/ted.2011.2182513
Fichier:
PDF, 564 KB
english, 2012
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