Degradation mechanism of Ti/Au and Ti/Pd/Au gate...

IEEE Transactions on Electron Devices 1987 Vol. 34; Iss. 5

Degradation mechanism of Ti/Au and Ti/Pd/Au gate metallizations in GaAs MESFET's

Donzelli, G., Paccagnella, A.
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Volume:
34
Année:
1987
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1109/t-ed.1987.23030
Fichier:
PDF, 595 KB
english, 1987
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