The use of multiple internal reflection on extrinsic...

IEEE Transactions on Electron Devices 1980 Vol. 27; Iss. 1

The use of multiple internal reflection on extrinsic silicon infrared detection

Shang-Bin Ko, Henderson, H.T.
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Volume:
27
Année:
1980
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1109/t-ed.1980.19820
Fichier:
PDF, 542 KB
english, 1980
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