New acceleration factors for temperature, humidity, bias...

IEEE Transactions on Electron Devices 1979 Vol. 26; Iss. 1

New acceleration factors for temperature, humidity, bias testing

Sbar, N.L., Kozakiewicz, R.P.
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Volume:
26
Année:
1979
Langue:
english
Pages:
16
DOI:
10.1109/t-ed.1979.19380
Fichier:
PDF, 1.50 MB
english, 1979
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