Thermal noise modeling for short-channel MOSFETs

IEEE Transactions on Electron Devices 1996 Vol. 43; Iss. 11

Thermal noise modeling for short-channel MOSFETs

Triantis, D.P., Birbas, A.N., Kondis, D.
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Volume:
43
Année:
1996
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1109/16.543032
Fichier:
PDF, 541 KB
english, 1996
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